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SE-i 光譜橢偏儀03090808

描述：SE-i光譜橢偏儀產(chǎn)品簡(jiǎn)介：光譜橢偏儀SE-Vi是一款集成式原位光譜橢偏儀，針對(duì)有機(jī)/無(wú)機(jī)鍍膜工藝研究的需要開(kāi)發(fā)的原位薄膜在線監(jiān)測(cè)中的定制化開(kāi)發(fā)，快速實(shí)現(xiàn)光學(xué)薄膜原位表征分析

廠商性質(zhì)
經(jīng)銷商
更新時(shí)間
2024-03-07
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SE-i 光譜橢偏儀

產(chǎn)品簡(jiǎn)介：光譜橢偏儀 SE-Vi 是一款集成式原位光譜橢偏儀，針對(duì)有機(jī)/無(wú)機(jī)鍍膜工藝研究的需要開(kāi)發(fā)的原位薄膜在線監(jiān)測(cè)中的定制化開(kāi)發(fā)，快速實(shí)現(xiàn)光學(xué)薄膜原位表征分析。光譜橢偏儀廣泛應(yīng)用于金屬薄膜、有機(jī)薄膜、無(wú)機(jī)薄膜的物理/化學(xué)氣相沉積， ALD 沉積等光學(xué)薄膜工藝過(guò)程中實(shí)際原位在線監(jiān)測(cè)并實(shí)時(shí)反饋測(cè)量物性數(shù)據(jù)。

產(chǎn)品型號(hào)

SE-i 光譜橢偏儀

技術(shù)參數(shù)

1、自動(dòng)化程度：固定變角

2、應(yīng)用定位：原位定制型

3、基本功能： Psi/Delta、N/C/S 等光譜

4、分析光譜： 380-1000nm，支持按需定制化

5、單次測(cè)量時(shí)間： 0.5-5s

6、重復(fù)性測(cè)量精度： 0.01nm

7、入射角范圍： 65°（支持定制）

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