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產(chǎn)品簡(jiǎn)介：TFMS-IV系列緊湊型高精度反射膜厚儀，利用光學(xué)干涉原理，通過(guò)分析薄膜表面反射光和薄膜與基底界面反射光相干涉形成的反射譜，快速準(zhǔn)確測(cè)量薄膜厚度、光學(xué)常數(shù)等信息

產(chǎn)品簡(jiǎn)介：SKCH-1（A）精密測(cè)厚儀是一種結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、價(jià)格低廉、高精度的測(cè)量裝置，主要用于各類材料厚度的精密測(cè)量，也可用于其它物品的高度與厚度測(cè)量

產(chǎn)品簡(jiǎn)介：EQ-TM106膜厚監(jiān)測(cè)儀是采用石英晶體振蕩原理，結(jié)合的頻率測(cè)量技術(shù)，進(jìn)行膜厚的在線監(jiān)測(cè)

產(chǎn)品簡(jiǎn)介：ComBi-D3涂鍍層測(cè)厚儀可以測(cè)試所有的非磁性涂層如人工合成（絕緣）材料，漆、瓷釉、銅、鉻、鋁等

產(chǎn)品簡(jiǎn)介：TF200薄膜厚度測(cè)量系統(tǒng)利用薄膜干涉光學(xué)原理，對(duì)薄膜進(jìn)行厚度測(cè)量及分析

產(chǎn)品簡(jiǎn)介：TFMS-LD是一款反射光譜薄膜測(cè)厚儀，可快速精確地測(cè)量透明或半透明薄膜的厚度，其測(cè)量膜厚范圍為15nm-50um，儀器所發(fā)出測(cè)試光的波長(zhǎng)范圍為400nm-1100nm